2009年05月
デジタル回転計/品番 MG14T-2268M
●接触・非接触の両機能付
●モーター、ファン、ギアポンプ、遠心分離機の測定に
●MAX/MIN・AVG表示機能
●オートパワーオフ機能
デジタル回転計
品番 MG14T-2268M
価格 \26,000-
●接触・非接触の両機能付
●モーター、ファン、ギアポンプ、遠心分離機の測定に
●MAX/MIN・AVG表示機能
●オートパワーオフ機能
デジタル回転計
品番 MG14T-2268M
価格 \26,000-
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アルミシールド袋/品番 M1037S-10Mシリーズ
抵抗値:PET 1×1011Ω/AL蒸着50Ω/PE 5×1010Ω)
PET/AL蒸着/PE 3層のファラデーケージ形成による静電気シールド袋です。
規格袋による案内となります。
詳細はこちらをクリックしてください。
抵抗値:PET 1×1011Ω/AL蒸着50Ω/PE 5×1010Ω)
PET/AL蒸着/PE 3層のファラデーケージ形成による静電気シールド袋です。
規格袋による案内となります。
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帯電袋(ブルー)/品番 M1037ELN-005-70-150シリーズ
■特長
抵抗値:5×1010Ω(20℃/50%)
ポリエチレンに帯電防止機能を付加させた、湿度依存の少ない帯電防止製品です。
このため帯電防止剤の転写がなく、帯電防止効果が持続する製品です。
■用途例
半導体デバイス・電子回路基板・計測器・精密機器等、静電気帯電防止及び防塵を要する品物の包装
詳細はこちらをクリックしてください。
■特長
抵抗値:5×1010Ω(20℃/50%)
ポリエチレンに帯電防止機能を付加させた、湿度依存の少ない帯電防止製品です。
このため帯電防止剤の転写がなく、帯電防止効果が持続する製品です。
■用途例
半導体デバイス・電子回路基板・計測器・精密機器等、静電気帯電防止及び防塵を要する品物の包装
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導電性袋(黒色)/品番 M1037KB-1Mシリーズ
抵抗値:5×1014Ω(20℃/50%)
導電性カーボンの効果により電気抵抗値が極めて低い製品です。
黒色不透明で、規格品を取り揃えています。
詳細はこちらをクリックしてください。
抵抗値:5×1014Ω(20℃/50%)
導電性カーボンの効果により電気抵抗値が極めて低い製品です。
黒色不透明で、規格品を取り揃えています。
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硬度計/品番 A
硬さ測定は各種ゴム、エラストマー、プラスチック製品の特性表示の重要な1項目であり、そのデータを得る測定器としてデュロメータ(スプリング式ゴム硬度計)が広く用いられています。ポータブルで使用方法が極めて簡単であり、非破壊で試験が行える、などがおもな特長です。
硬度計
品番 A
価格は下記をご覧下さい。
硬さ測定は各種ゴム、エラストマー、プラスチック製品の特性表示の重要な1項目であり、そのデータを得る測定器としてデュロメータ(スプリング式ゴム硬度計)が広く用いられています。ポータブルで使用方法が極めて簡単であり、非破壊で試験が行える、などがおもな特長です。
硬度計
品番 A
価格は下記をご覧下さい。
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デジタル騒音計/品番 MG14L-4010M
●35~130dBまでを1台でカバー
●31.5Hz~8kHzまで対応
●データホールド機能
デジタル騒音計
品番 MG14L-4010M
価格 \22,000-
●35~130dBまでを1台でカバー
●31.5Hz~8kHzまで対応
●データホールド機能
デジタル騒音計
品番 MG14L-4010M
価格 \22,000-
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大型LED温度表示計/品番 MG14T-870Mシリーズ
熱中症予防対策などに最適
※防水仕様ではないので、屋外で使用される場合は軒下か、本体に直接水がかからない場所に設置して下さい。
大型LED温度表示計
品番 MG14T-870Mシリーズ
価格は下記をご覧ください。
熱中症予防対策などに最適
※防水仕様ではないので、屋外で使用される場合は軒下か、本体に直接水がかからない場所に設置して下さい。
大型LED温度表示計
品番 MG14T-870Mシリーズ
価格は下記をご覧ください。
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微少低電位測定器/品番 MB16D-3000S
電子デバイスの静電気耐性はますます低下しており、静電気管理電圧も低下してきております。
従来の機種では測定が困難であった、100V以下の帯電を高精度で測定し、0.1Vからの測定が可能になりました。
また、測定エリアを絞ることにより、LSIのパッケージ表面等の狭いエリアの測定が可能になりました。
詳細はこちらをクリックしてください。
電子デバイスの静電気耐性はますます低下しており、静電気管理電圧も低下してきております。
従来の機種では測定が困難であった、100V以下の帯電を高精度で測定し、0.1Vからの測定が可能になりました。
また、測定エリアを絞ることにより、LSIのパッケージ表面等の狭いエリアの測定が可能になりました。
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